BashGU
Electronic Library

     

Details

Методы исследования материалов и процессов / Уфимский университет науки и технологий; авторы- составители Р.К. Вафин, А.В. Асылбаев, А.А. Николаев. — Уфа: Уфимский университет, 2026. — Электрон. версия печ. публикации. — Доступ возможен через Электронную библиотеку УУНИТ. — <URL:https://elib.bashedu.ru/dl/read/VafinRK_i dr_avt-sost_Metod.issled.mater.i processov_lab.prakt._2026.pdf>. — Текст: электронный

Record create date: 4/29/2026

Subject: растровый электронный микроскоп; метод рентгеноструктурного анализа; лабораторные работы; свойства защитных покрытий; прибор «CSM SCRATCH TEST»

Collections: Учебные и учебно-методические издания; Общая коллекция

Allowed Actions:

*^% Action 'Read' will be available if you login and work on the computer in the reading rooms of the Library

Group: Anonymous

Network: Internet

Document access rights

Network User group Action
Library BashGU Local Network All Read
Internet Authenticated users Read
-> Internet All

Table of Contents

  • 1.2. Теоретическая часть……....................................................................
  • Изучение метода рентгеноструктурного анализа конструкционных материалов и покрытий
  • Лабораторная работа № 3
    • Измерение толщины защитного покрытия на приборе «CSM CALOTEST»
    • Рис. 3.2. Схема изучения толщины покрытия на наклонном шлифе:
    • 1 – покрытие, 2 – подложка
  • Z = X(Y / D, где D – диаметр шарика
  • Рис. 3.5. Схема измерения толщины покрытия Z на сферическом шлифе
  • Рис. 3.6. Схема измерения толщины покрытия
  • на установке CSM СALOTES
  • Лабораторная работа № 4
    • Измерение свойств защитных покрытий методом склерометрии
    • на приборе «CSM SCRATCH TEST»
  • Рис. 4.4. Регистрируемые данные в ходе скретч-тестирования
  • Rd – изменение глубины индентора при упруго-пластическом деформировании покрытия; Pd – изменение глубины индентора после упругого восстановления материала покрытия; Аэ – величина акустической эмиссии при царапании
  • Рис. 4.5. Характерный вид места разрушения (скалывания) покрытия
    • 10. Левашов, Е. А. / Многофункциональные наноструктурные пленки // Нанометр. Нанотехнологическое сообщество, 2008.
  • шаблон
    • Без имени

Usage statistics

stat Access count: 0
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics