| Card | Table | RUSMARC | |
Методы исследования материалов и процессов / Уфимский университет науки и технологий; авторы- составители Р.К. Вафин, А.В. Асылбаев, А.А. Николаев. — Уфа: Уфимский университет, 2026. — Электрон. версия печ. публикации. — Доступ возможен через Электронную библиотеку УУНИТ. — <URL:https://elib.bashedu.ru/dl/read/VafinRK_i dr_avt-sost_Metod.issled.mater.i processov_lab.prakt._2026.pdf>. — Текст: электронныйRecord create date: 4/29/2026 Subject: растровый электронный микроскоп; метод рентгеноструктурного анализа; лабораторные работы; свойства защитных покрытий; прибор «CSM SCRATCH TEST» Collections: Учебные и учебно-методические издания; Общая коллекция Allowed Actions: –
*^% Action 'Read' will be available if you login and work on the computer in the reading rooms of the Library
Group: Anonymous Network: Internet |
Document access rights
| Network | User group | Action | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Library BashGU Local Network | All |
|
||||
| Internet | Authenticated users |
|
||||
|
Internet | All |
Table of Contents
- 1.2. Теоретическая часть……....................................................................
- Изучение метода рентгеноструктурного анализа конструкционных материалов и покрытий
- Лабораторная работа № 3
- Измерение толщины защитного покрытия на приборе «CSM CALOTEST»
- Рис. 3.2. Схема изучения толщины покрытия на наклонном шлифе:
- 1 – покрытие, 2 – подложка
- Z = X(Y / D, где D – диаметр шарика
- Рис. 3.5. Схема измерения толщины покрытия Z на сферическом шлифе
- Рис. 3.6. Схема измерения толщины покрытия
- на установке CSM СALOTES
- Лабораторная работа № 4
- Измерение свойств защитных покрытий методом склерометрии
- на приборе «CSM SCRATCH TEST»
- Рис. 4.4. Регистрируемые данные в ходе скретч-тестирования
- Rd – изменение глубины индентора при упруго-пластическом деформировании покрытия; Pd – изменение глубины индентора после упругого восстановления материала покрытия; Аэ – величина акустической эмиссии при царапании
- Рис. 4.5. Характерный вид места разрушения (скалывания) покрытия
- 10. Левашов, Е. А. / Многофункциональные наноструктурные пленки // Нанометр. Нанотехнологическое сообщество, 2008.
- шаблон
- Без имени
Usage statistics
|
|
Access count: 0
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |
