ЭБС Уфимского университета науки и технологий
фонд Заки Валиди 32, Карла Маркса 3/1 и Достоевского 131

     

Детальная информация

Бабков, Егор Андреевич. Оценка разрешающий способности оптоволоконных измерительных систем на базе DTS: выпускная квалификационная работа по программе бакалавриата. Направление подготовки (специальность) 03.03.02 Физика. Направленность (профиль): Цифровая петрофизика / Е.А. Бабков; Уфимский университет науки и технологий, Физико-технический институт, Кафедра геофизики ; научный руководитель А.Р. Яруллин. — Уфа, 2025. — 32 с. — <URL:https://elib.bashedu.ru/dl/diplom/2025/Babkov_EA_FZ-4CPF211B _03.03.02_physic_bak_06.2025.pdf>. — Текст: электронный

Дата создания записи: 29.08.2025

Тематика: ВКР; бакалавриат; DTS-система; оптоволоконный кабель; оценка разрешающей способности; расчет квадратичных отклонений; оптоволоконные измерительные системы

Коллекции: Квалификационные работы бакалавров и специалистов; Общая коллекция

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему и будете работать на компьютерах в читальных залах Библиотеки

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть Библиотеки Аутентифицированные пользователи Прочитать
Локальная сеть Библиотеки Все
Интернет Аутентифицированные пользователи Прочитать
-> Интернет Все

Оглавление

  • ВВЕДЕНИЕ
  • 1. Система распределенного измерения температуры
  • 1.1 Описание измерителя DTS
  • 1.2 Принцип работы DTS-системы
  • 2. Разрешающая способность оптоволоконных измерительных систем
  • 2.1 Разрешающая способность DTS-системы
  • 2.2 Параметры разрешающей способности
  • 2.3 Методы оценки разрешающей способности
  • 2.4 Факторы, влияющие на разрешающую способность
  • 2.5 Примеры применения и современные разработки
  • 3. Оценка разрешающей способности с изменением входных параметров
  • 3.1 Расчет квадратичных отклонений
  • 3.1.1 Расчет с постоянными количеством и временем интеграций
  • 3.1.2 Расчеты с постоянной шириной импульса лазера
  • 3.2 Оценка разрешающей способности по глубине
  • 3.2.1 Оценка разрешающей способности по глубине с различной шириной импульса лазера
  • 3.2.2 Оценка разрешающий способности по глубине с разными временем и количеством интеграций.
  • 3.2.3 Оценка разрешающей способности по температуре
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ И ЛИТЕРАТУРЫ

Статистика использования

stat Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика